Usb芯片的测试方法及系统的制作方法

文档序号:9248569
Usb芯片的测试方法及系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电子测试领域,更具体地涉及一种用于对USB3.0芯片进行多通道测试的USB芯片的测试方法及系统。
【背景技术】
[0002]在USB协议下,通常需要对USB芯片的各端点进行大量数据包的传输检测和定位。现有的测试方案多是在传统的USB数据协议下,利用标准的主机驱动构建不同的测试流程,模仿正常通信在各个USB芯片的数据端点建立数据通路,对各个数据端点依次进行USB数据协议的建立、传输、完成和测试。这种方案测试简单容易构建,但是不容易对USB芯片设计的错误进行覆盖检测和快速定位。
[0003]上述现有技术中主要是按照USB芯片实际工作的标准流程进行,没有考虑USB芯片在工作中各种错误极端情况的出现,但是实际USB芯片工作中可能在各个无法预想的极端条件下会出现的各种问题。因为上述现有技术对USB芯片的检测是建立在理想使用的环境中的,所以上述现有技术的检测方式无法完全对USB芯片的潜在错误进行检测和定位。
[0004]因此,有必要提供一种改进的USB芯片的测试方法及系统来克服上述缺陷。

【发明内容】

[0005]本发明的目的是提供一种USB芯片的测试方法及系统,用于对USB3.0芯片进行多通道测试。本发明的USB芯片的测试方法及系统在USB3.0芯片的测试过程中不受USB协议的限制,USB3.0芯片的各数据端点的测试不受USB实际驱动程序的限制,可以在测试中最大可能的进行硬件的错误检测,完成对硬件的覆盖测试和错误跟踪定位,使USB3.0芯片能够避免在实际运行中当遇到极端恶劣情况时发生错误的可能。
[0006]为实现上述目的,本发明提供一种USB芯片的测试方法,用于对USB3.0芯片进行多通道测试,其包括如下步骤:a.USB主机的数据发生器随机产生测试数据包,并对产生的测试数据包进行标记;b.将标记后的测试数据包随机传送至USB3.0芯片;c.USB3.0芯片的串行接口单元将收到的测试数据包发送至USB3.0芯片的各个数据端点;d.各个数据端点对接收到的测试数据包进行并行处理;e.数据检测器根据测试数据包的标记检测各数据端点对测试数据包的处理方式。
[0007]较佳地,在所述USB主机内预设有各种测试函数及USB3.0协议的所有数据协议,且所述USB主机根据USB3.0协议对USB3.0芯片各个端点同时建立传输通道。
[0008]较佳地,所述步骤a具体为:所述数据发生器按照主机内存储的数据协议将测试数据包在USB3.0芯片内部的处理方式信息和位置信息写到测试数据包的固定位置处。
[0009]较佳地,所述测试数据包的固定位置为测试数据包的非协议位置。
[0010]较佳地,所述非协议位置为测试数据包的前四个字节。
[0011]较佳地,同时本发明还提供一种USB芯片的测试系统.
[0012]较佳地,测试数据包的处理方式信息记录于测试数据包的第3字节与第4字节。
[0013]较佳地,所述处理方式包括数据被丢弃、数据被送到驱动单元处理、数据被送到存储单元及数据被返回USB主机。
[0014]较佳地,在所述步骤b中,USB主机将所述标记后的测试数据包以最大负荷随机传送给USB3.0芯片。
[0015]相应地,本发明还提供一种USB芯片的测试系统,用于对USB3.0芯片进行多通道测试,其包括数据发生器、串行接口单元、数据检测器及多个数据端点;所述数据发生器随机产生测试数据包,并对产生的测试数据包进行标记,USB主机将标记后的测试数据包随机传送至所述串行接口单元,串行接口单元将收到的测试数据包进行串并转换,并将转换后的并行测试数据包发送至各个数据端点,各个数据端点对接收到的测试数据包进行并行处理,所述数据检测器根据测试数据包的标记检测各数据端点对测试数据包的处理方式。
[0016]较佳地,所述USB芯片的测试系统还包括驱动单元及存储单元,各数据端点对测试数据包的处理方式包括数据被丢弃、数据被送到驱动单元处理、数据被送到存储单元存储及数据被返回USB主机;且所述数据检测器包括第一数据检测器与第二数据检测器,所述第一数据检测器检测数据端点是否正确将数据返回至USB主机,所述第二数据检测器检测所述数据端点是否正确将数据送到驱动单元处理及是否正确将数据存储于存储单元中。
[0017]与现有技术相比,本发明的USB芯片的测试方法及系统,通过各个数据端点对接收到的测试数据包进行并行测试处理,让USB3.0芯片的测试不受USB协议的限制,USB3.0芯片的各数据端点的测试不受USB实际驱动程序的限制;另外,测试数据包是随机传送至USB3.0芯片的,使得在测试中最大可能的进行硬件的错误检测,完成对硬件的覆盖测试和错误跟踪定位,减少了 USB3.0芯片在实际运行中遇到极端恶劣情况时发生错误的可能。
[0018]通过以下的描述并结合附图,本发明将变得更加清晰,这些附图用于解释本发明的实施例。
【附图说明】
[0019]图1为本发明USB芯片的测试系统的结构框图。
[0020]图2为本发明USB芯片的测试方法的流程图。
【具体实施方式】
[0021]现在参考附图描述本发明的实施例,附图中类似的元件标号代表类似的元件。如上所述,本发明提供了一种USB芯片的测试方法及系统,用于对USB3.0芯片进行多通道测试。本发明的USB芯片的测试方法及系统在USB3.0芯片的测试过程中不受USB协议的限制,USB3.0芯片的各数据端点的测试不受USB实际驱动程序的限制,可以在测试中最大可能的进行硬件的错误检测,完成对硬件的覆盖测试和错误跟踪定位,使USB3.0芯片能够避免在实际运行中当遇到极端恶劣情况时发生错误的可能。
[0022]请参考图1,图1为本发明USB芯片的测试系统的结构框图。如图所示,本发明的USB芯片的测试系统,用于对USB3.0芯片进行多通道测试,其包括数据发生器、串行接口单元、数据检测器及多个数据端点。所述数据发生器置于USB主机内部,且随机产生测试数据包,并根据主机内存储的数据协议对产生的测试数据包进行标记,从而通过测试数据包的标记使得在USB3.0芯片的测试过程中可对USB3.0芯片的错误进行准确的跟踪与定位。USB主机将标记后的测试数据包通过高速串行总线随机传送至USB3.0芯片的串行接口单元,串行接口单元将收到的测试数据包进行串并转换,并将转换后的并行测试数据包发送至各个数据端点。各个数据端点对接收到的测试数据包进行并行处理。所述数据检测器根据测试数据包的标记检测各数据端点对测试数据包的处理方式。另外,如图1所示,在本发明的优选实施方式中,本发明的USB芯片的测试系统还包括驱动单元及存储单元,各数据端点对测试数据包的处理方式包括数据被丢弃、数据被送到驱动单元处理、数据被送到存储单元存储及数据被返回USB主机;且所述数据检测器包括第一数据检测器与第二数据检测器,所述第一数据检测器检测数据端点是否正确将数据返回至USB主机,所述第二数据检测器检测所述数据端点是否正确将数据送到驱动单元处理及是否正确将数据存储于存储单元中,从而通过所述第一数据检测器与第二数据检测器对测试数据包的处理方式的检测而实现对所述USB3.0芯片的测试,且在测试过程中不受USB协议的限制,USB3.0芯片的各数据端点的测试不受USB实际驱动程序的限制,可以在测试中最大可能的进行硬件的错误检测,完成对硬件的覆盖测试和错误跟踪定位,使USB3.0芯片能够避免在实际运行中当遇到极端恶劣情况时发生错误的可能。
[0023]请再结合参考图2,图2为本发明USB芯片的测试方法的流程图,本发明的USB芯片的测试方法用于对USB3.0芯片进行多通道测试。如图所示,本发明USB芯片的测试方法包括如下步骤:
[0024]步骤S101,USB主机的数据发生器随机产生测试数据包,并对产生的测试数据包进行标记;作为本发明的优选实施方式,在本步骤开始前,在所述USB主机内预设有各种测试函数及USB3.0协议的所有数据协议,从而在后续各步骤中可直接匹配需要用到的测试函数或数据协议,且所述USB主机根据USB3.0协议对USB3.0芯片各个端点同时建立传输通道,以使所述
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